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IC 設計中DFT的Boundary Scan功能
時間 2021-01-16
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在很大規模的IC設計中,往往會有一些各種各樣的bug出現,不論是在前期design的過程,還是在post silicon流片回來chip的flaw,都會導致chip的功能的失敗,時鐘頻率無法達到期望頻率。 所以,在超大規模集成電路的設計中,DFT就是一門非常重要的方法學,在消費者手中,往往不知道他們的存在,但是在IC工程師眼中,DFT往往會是一個救命的稻草,讓我們在芯片出問題的時候,可以知道從哪下
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