DFT中的Scan Technology
前言：DFT所解決的問題，一句話來概括之，就是：藉助特定的輔助性設計，產生高效率的結構性測試向量以檢測生產製造過程中引入芯片中的各種物理缺陷。Scan就是此類輔助性設計之一，本期文章就來幫助大家瞭解Scan技術的具體內容。 在深入瞭解scan技術之前，我們先來比較下分別針對組合邏輯電路和時序邏輯電路的測試過程。很顯然，在芯片製造出來後，我們只能通過其輸入輸出端口來對
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