1. DFT 入門篇-scan chain

DFT   --  design  for  test  三要素：輔助性設計， physical defects   結構性測試向量    是一種輔助性設計，利用這種輔助性設計 對根據 physical  defects  建立的 fault  model 進行求解產生的結構性測試向量， 這些結構性測試向量用於檢測製造出來芯片的能否正常工作。 scan  chain  包含兩個步驟： scan r

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