SOC/DFT——Boundary scan 模塊(一）

SOC/DFT——Boundary scan 模塊(一） 一、相關概念 DFT 介紹本文之前先介紹幾個概念： SOC（片上系統）: 一般採用ASIC來做SOC，即專用集成電路。 DFT（Deign For Test）: 集成電路可測性設計。在很大規模的IC設計中，往往會有一些各種各樣的bug出現，不論是在前期design的過程，還是在post silicon流片回來chip的flaw，都會導致ch

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