NI：力爭成爲半導體測試領域的領導者

在以前，芯片廠商的測試設備選擇主要有兩種類型：一種是使用專門面向CPU和閃存等數字芯片爲典型代表的傳統ATE，另一種是爲混合信號和MEMS等芯片爲典型代表搭建的DIY測試設備。前者因爲有標準化的測試標準，多年積累的ATE廠商在其中佔有很大的份額，且很難被其他新入者所撼動，這是毫無疑問的；至於後者，與傳統ATE比，這些搭建的測試設備雖然比較便宜，但後續的維護成本，是一筆龐大的支出。 進入了最近幾年，

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