CDE Resmap 4 探針電阻值測試系統

CDE 4 探針電阻值測試系統 CDE Resmap 系統知足你全部的需求。 不論是在研究實驗室仍是須要高淨化要 求的半導體生產車，它均可以完成連續24/7片從低到高,多數量連續測試的需求。不論 你是在化學研磨拋光（CMP）,擴散，離子注入部門，或者在導電薄膜研究， CDE的 RESMAP 系統能夠知足您工藝上和測量需求發展上甚至是預算方面的要求。測試 Resmap系統提供的是準確、可重複使用的，

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