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彙總|缺陷檢測數據集
時間 2021-01-12
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缺陷檢測
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作者:Tom Hardy Date:2020-01-06 來源:彙總|缺陷檢測數據集 一、弱監督學習下的工業光學檢測(DAGM 2007) 數據下載鏈接: https://hci.iwr.uni-heidelberg.de/node/3616 數據集介紹: 主要針對紋理背景上的雜項缺陷。 較弱監督的訓練數據。 包含是個數據集,前六個爲訓練數據集,後四個爲測試數據集。 每個數據集均包含以灰度8
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