HALCON【缺陷檢測】

1.缺陷分類： 邊緣凹凸、毛刺 內部污點、內部凹凸、特定空洞、破損 劃痕（一般用低角度環形光和同軸光源） 凸點一般用帶角度的光源斜着打，背景打亮，凸點打暗。 凹點一般用平行光從上往下打，背景打亮，凹點打暗。 2.缺陷處理的方式： Blob+區域特徵：cheak_blister.hdev(檢測膠囊缺失和錯誤) Blob+區域特徵+差分：fin.hdev(邊緣凸起的檢測) 頻域+空間域 光度立體法 特

>>阅读原文<<