NAND FLASH ECC校驗原理與實現

轉載地址：https://blog.csdn.net/darennet/article/details/8220692 ECC簡介 　　由於NAND Flash的工藝不能保證NAND的Memory Array在其生命週期中保持性能的可靠，因此，在NAND的生產中及使用過程中會產生壞塊。爲了檢測數據的可靠性，在應用NAND Flash的系統中一般都會採用一定的壞區管理策略，而管理壞區的前提是能比較可

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