FLASH ECC算法

文章目錄 1.ECC算法簡介 2.ECC算法描述 2.1 ECC校驗算法 2.2 ECC糾錯算法 3. ECC算法步驟 4. 算法驗證 寫在最後 1.ECC算法簡介 由於NAND Flash的工藝不能保證NAND的Memory Array在其生命週期中保持性能的可靠，因此，在NAND的生產中及使用過程中會產生壞塊。爲了檢測數據的可靠性，在應用NAND Flash的系統中一般都會採用一定的壞區管理策

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