ECC校驗
NAND FLASH ECC校驗原理與實現 ECC簡介 由於NAND Flash的工藝不能保證NAND的Memory Array在其生命週期中保持性能的可靠，因此，在NAND的生產中及使用過程中會產生壞塊。爲了檢測數據的可靠性，在應用NAND Flash的系統中一般都會採用一定的壞區管理策略，而管理壞區的前提是能比較可靠的進行壞區檢測。 如果操作時序和電路穩定性不存在問題的話，NAND F
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