分治算法：芯片測試

芯片測試 問題描述 方案一：枚舉法 設計思路 方案二：分治算法 設計思路 僞代碼實現 代碼實現 時間複雜度 問題描述 有n片芯片，已知好芯片比壞芯片至少多1片。現在需要通過測試從中找出1片好芯片，測試方法如下：將2片芯片放到測試臺上，2片芯片互相測試並報告測試結果（即好或者壞）；其中，好芯片的報告是正確的，而壞芯片的測試報告是不可靠的(即報告結果可能爲「好」或者「壞」)。 方案一：枚舉法 設計思路

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