芯片測試

問題描述 有n（2≤n≤20）塊芯片，有好有壞，已知好芯片比壞芯片多。 　　每個芯片都能用來測試其他芯片。用好芯片測試其他芯片時，能正確給出被測試芯片是好還是壞。而用壞芯片測試其他芯片時，會隨機給出好或是壞的測試結果（即此結果與被測試芯片實際的好壞無關）。 　　給出所有芯片的測試結果，問哪些芯片是好芯片。 輸入格式 　　輸入數據第一行爲一個整數n，表示芯片個數。 　　第二行到第n+1行爲n*n的一

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