集成電路中測試概述（三）

這篇文章講一下基於JTAG 的可測性設計。 JTAG也稱作邊界掃描，最初是由歐洲的一些測試工程師提出的標準，該種測試技術指的是在芯片的邊界上加上串行移位寄存器，以實現對芯片的測試，這種技術稱爲邊界掃描。下圖是邊界掃描寄存器的原理，邊界掃描單元組成掃描鏈將被測試設計包圍了起來。   採用邊界掃描技術進行測試的時候，需要進行如下的操作： 1）將測試向量載入到邊界掃描單元，此操作應該串行完成 2）將邊界

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