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四十二:芯片的測試
時間 2019-12-07
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問題:芯片的測試html 題目描述測試 有n(2≤n≤20)塊芯片,有好有壞,已知好芯片比壞芯片多。 每一個芯片都能用來測試其餘芯片。用好芯片測試其餘芯片時,能正確給出被測試芯片是好仍是壞。而用壞芯片測試其餘芯片時,會隨機給出好或是壞的測試結果(即此結果與被測試芯片實際的好壞無關)。 給出全部芯片的測試結果,問哪些芯片是好芯片。 輸入 輸入數據第一行爲一個整數n,表示芯片個數。 第二行
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