NAND Flash 芯片測試

DFT : Design For Testabilityide TTR :Test Time Reduction性能 KGD: Known Good Die測試 NAND Flash 芯片測試主要是爲了篩選（Screen Out）出Flash陣列、譯碼器、寄存器的失效。優化 測試流程（Test Flow）component 從wafer level，到single component level、

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