NAND Flash 芯片測試

DFT : Design For Testability TTR :Test Time Reduction KGD: Known Good Die NAND Flash 芯片測試主要是爲了篩選（Screen Out）出Flash陣列、譯碼器、寄存器的失效。 測試流程（Test Flow） 從wafer level，到single component level、module level，定義各項測

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