如何利用基於PXI的下一代ATE系統測試平臺進行軍事/航天/衛星電子設備測試

前言         自動測試設備（ATE）系統用於在生產產品或產品使用過程中測試電子組件，子組件或完整系統的功能和性能，以確保他們可操作性。對設備、電路板、子組件或系統的測試要求從簡單到複雜，設計測試系統的方法可能基於定製以及專有硬件和軟件，或基於商用現成品（COTS）技術。        20世紀60年代末，商用ATE系統首次出現在市場上。這些ATE系統基於專有的數字、模擬和交換架構，並被廣泛

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