半導體測試：基於PXI 平臺的先進性能中的AC/DC和V-I測試

前言        當今半導體測試工程師面臨的挑戰是如何尋找和創建一個新的測試解決方案，該方案被要求能夠顯著降低測試成本，並滿足可配置、開放架構、靈活的測試解決方案的需求，這些解決方案可以提供與專用ATE平臺相媲美的功能。特別是，對於低至中等數量的測試需求，例如在試生產、驗證和集中生產過程中的測試應用，對靈活且經濟高效的ATE解決方案的需求尤爲迫切。對於這些應用，測試工程師過去一直依賴傳統的測試系

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