E-trim 技術
e-trim 技術是 TI 專有的一種在晶 圓測試或最終測試階段微調內部器件參數的方法。在微調輸入失調電壓漂移時，每個器件上的系統性或線性漂移誤 差都被微調至零。這儘可能減小了與輸入零點漂移相關的剩餘誤差，並且結果只來自於非線性誤差源。圖 49闡明 了這一概念。
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