DFT涉及的各種"模式" function/test/dc/ac/scan/fast/slow 及基本概念

目錄 1.test mode可分爲： (a). analog(BIST) test (b). function test (c). BIST test (d). SCAN test (e).IO test 2.DFT要測的內容 或者說缺陷分類 (a).Stuck At (b).Transition (c).Path Delay (d).Bridge Test (e).IDDQ 3.DFT測試手段

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