靜態時序分析的基本方法06

       其他芯片變化相關分析模式        隨着製造工藝越來越先進，在時序分析規模不斷增大的同時，對時序分析精度的要求也越來越高，因此常規的芯片變化相關分析模式已經無法滿足當前更高級的時序分析要求。        本節將介紹兩種更高級的芯片變化相關分析模式：高級芯片變化相關分析模式和參數化芯片變化相關分析模式。        高級芯片變化相關（AOCV）分析模式       在真實狀態下

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