《電子元器件的可靠性》——2.5節威布爾分佈及其概率紙的結構和用法

本節書摘來自華章社區《電子元器件的可靠性》一書中的第2章，第2.5節威布爾分佈及其概率紙的結構和用法，作者王守國，更多章節內容可以訪問雲棲社區「華章社區」公衆號查看 2.5　威布爾分佈及其概率紙的結構和用法 2.5.1　威布爾分佈函數 威布爾分佈是可靠性分佈中最常用、最複雜的一種分佈，其分佈函數是由瑞典科學家威布爾從材料強度的統計理論推導出來的一種失效分佈函數。這種函數的物理模型是由n個環組成的鏈

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