《電子元器件的可靠性》——3.2節抽樣理論及抽樣方法

本節書摘來自華章社區《電子元器件的可靠性》一書中的第3章，第3.2節抽樣理論及抽樣方法，作者王守國，更多章節內容可以訪問雲棲社區「華章社區」公衆號查看 3.2　抽樣理論及抽樣方法　　 電子元器件由於批量大，可靠性高，對於其壽命和可靠性常採用抽樣檢驗的方法，特別是破壞性試驗、抽樣檢驗顯得更重要。所謂抽樣檢驗是指依照規定的抽樣方案和抽樣程序，從批（一批產品或一個製造過程的日產量等）產品中隨機地抽取若干

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