「後來的我們，都去學DFT」

在超大規模集成電路時代，可測試性設計（Design for Test,簡稱DFT）是電路和芯片設計的重要環節，它通過在芯片原始設計中插入各種用於提高芯片可測試性（包括可控制性和可觀測性）的硬件邏輯，方便芯片生產之後能夠迅速測試區分芯片的好壞。在要求比較苛刻的芯片中，還通過進一步的設計中，能夠準確地定位錯誤發生在哪個地方，從而使芯片變得容易測試，大幅度節省芯片測試的成本。 由於相關人才稀缺，DFT工

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