HC32F003系列芯片時鐘源性能測試及分析

HC32F003系列芯片時鐘源性能測試及分析 測試概要 測試目的：分析HC32F003系列芯片幾種時鐘源的性能差別。主要分析頻率、佔空比的偏差範圍。 測試項目：分別測試如下幾種時鐘源的性能，每種測試很多於10次。 內部高速4MHz 內部高速8MHz 內部高速16MHz 內部高速22.12MHz 內部高速24MHz 內部低速32.8KHz 內部低速38.4KHz 外部高速32MHz 測試環境及工具：

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