《電子元器件的可靠性》——3.6節恆定應力加速壽命試驗

本節書摘來自華章社區《電子元器件的可靠性》一書中的第3章，第3.6節恆定應力加速壽命試驗，作者王守國，更多章節內容可以訪問雲棲社區「華章社區」公衆號查看 3.6　恆定應力加速壽命試驗 3.6.1　加速壽命試驗的提出 對於可靠性高的電子元器件進行長期壽命試驗，無論是從成本還是從時間上來看，都是不合算的，甚至是不可能的。例如，人造地球衛星上所使用的電子元器件，要求失效率小於2.6×10-8/小時，如果

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