DFT(design for test）

DFT:全稱是 Design for Test，可測性設計，通過在芯片原始設計中插入各種用於提高芯片可測試性（包括可控制性和可觀測性）的硬件邏輯，從而使芯片變得容易測試，大幅度節省芯片測試的成本。 (隨着電子電路集成度的提高，電路愈加複雜，要完成一個電路的測試所需要的人力和時間也變得非常巨大。爲了節省測試時間，除了採用先進的測試方法外，另外一個方法就是提高設計本身的可測試性。其中，可測試性包括兩個

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