DFT--Design For Test

  一、DFT概念：可測試性設計 狹義理解：是指在芯片開發中的前端設計裏增加爲後期的ATE測試所準備的測試邏輯。 用於控制或產生測試向量，達到自動測試的目的。 廣義理解：不僅包括爲自動化測試所設計的測試邏輯 ，還涵蓋了測試向量的產生，測試結果的分析等。 二、DFT存在的意義 篩選出出錯的芯片：open/break 定位錯誤位置 提高工藝，提高良率。 浴盆曲線.png 故：不能實現質量的100%。

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