[DFT] OCC(On-Chip Clocking)電路的實現

OCC(On-Chip Clocking)電路的實現測試 在作SCAN的時候，因爲ATE時鐘速度和芯片port的傳輸速度的限制，致使ATE沒法向片傳輸高速時鐘。可是，芯片內部須要 進行At Speed 測試的時候，用到和system mode一致的時鐘頻率進行測試。此時，須要由芯片內部本身產生測試時鐘。spa 在capture的時候，對於內部寄存器來講，到達clock pin上的時鐘波形如intc

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