硬件工程師筆試常見問題

硬件筆試常見的問題本篇博客來講說硬件開發的筆試或者面試。

         面試主要是基於項目的,因此在這裏不過多討論,看本身的項目經驗了。面試

        筆試題目,硬件筆試包含的內容仍是比較多的,有FPGA,C語言,信號系統知識,數電模電、電路分析、高頻電路、PCB設計,通訊原理等。在這裏儘量列舉硬件筆試可能會出現的題目。網絡

   如下回答爲筆者杜撰,未必正確,歡迎你們一同討論。wordpress

硬件筆試常見的問題PCB的兩條走線過長平行走線會引發什麼後果?學習

硬件筆試常見的問題從信號完整性方面來考慮,過長的走線耦合加強,串擾的本質在於耦合,因此過長平行走線會引發串擾,可能會引發誤碼操做。編碼

硬件筆試常見的問題常見的組合邏輯電路有哪些?設計

硬件筆試常見的問題加法器,數據選擇器,數據輸出器,編碼器,譯碼器,數值比較單元,算數邏輯單元。blog

硬件筆試常見的問題存儲器有哪些構成?圖片

硬件筆試常見的問題存儲陣列,地址譯碼器和輸出控制電路。ip

硬件筆試常見的問題鎖相環電路的基本構成?開發

硬件筆試常見的問題分頻器、鑑頻鑑相器、環路濾波器、壓控振盪器。

硬件筆試常見的問題RS232和RS485的主要區別?

硬件筆試常見的問題RS232是利用傳輸線與公共地之間的電壓差傳輸信號,RS485是利用傳輸線之間的電壓差做爲傳輸信號,因爲電壓差分對的存在,能夠很好的抑制共模干擾,因此RS485傳輸更遠。

硬件筆試常見的問題驅動蜂鳴器的三極管工做在哪一個區,如果作反相器呢

硬件筆試常見的問題因爲單片機等其餘MCU IO輸出的電流比較小,大概在幾十個mA如下,因此爲了驅動須要電流較大的器件,須要額外的器件。驅動蜂鳴器利用三極管,使其工做在放大區。利用三極管的飽和和截止特性,能夠作反相器,做爲開關使用。

硬件筆試常見的問題四層板信號分佈是怎麼樣的,才能使EMC下降

硬件筆試常見的問題對於經常使用的4層板信號分佈是,信號層–地層(電源層)—電源層(地層)—信號層。這樣設置的原則是(1)電源層和地層相鄰,能夠耦合電源的噪聲,下降因電源抖動對器件的影響。(2)頂層和底層都有相應的參考層,能夠良好的達到信號阻抗要求。(3)因兩個信號層都有參考層,因此都有各自的參考迴流路徑,能夠下降EMI。

硬件筆試常見的問題分析競爭與冒險如何產生的以及如何避免?

硬件筆試常見的問題信號通過邏輯門電路都須要要必定的時間,不一樣的傳輸路徑上門電路數量不同或者門電路數量同樣,但每一個門電路的延遲時間不同,使得與穩態下獲得的邏輯功能不一致,產生錯誤的輸出。到達的時間不一致稱爲競爭,產生的毛刺稱爲冒險。

硬件筆試常見的問題解決辦法:1.增長選通電路;2.芯片外部添加電容;3.增長布爾式的消去項;

硬件筆試常見的問題傳輸線幾個重要的經驗公式

硬件筆試常見的問題對於傳輸線上任何串聯鏈接都有電容參數,爲了使其不產生對信號線變緩趨勢,須要知足 C < 4 *RT。對於傳輸線上任何串聯鏈接都有電感參數,爲了使其不產生尖峯信號,須要知足 L < 0.2 * Z0 *RT。

硬件筆試常見的問題AD電路中,濾波爲何採用磁珠濾波,而不是電感

硬件筆試常見的問題良好的濾波電路對AD器件影響是較大,噪聲大,可能會引發誤碼操做。磁珠濾波是吸取噪聲,轉化成熱,電感濾波時反射噪聲,並無消除噪聲。

硬件筆試常見的問題解釋一下電感,磁珠和電容濾波原理

硬件筆試常見的問題磁珠濾波是吸取噪聲磁珠的等效形式爲電抗(電感) + 電阻,在低頻段,磁珠表現爲感性,反射噪聲,在高頻段表現爲阻性,吸取噪聲,並轉化成熱。因此選擇磁珠時須要考慮電路上的信號和噪聲所處的頻帶,儘可能讓工做頻率高於磁珠的轉化頻率,處在阻性範圍。 對於磁珠的選擇須要考慮的方面:(1)考慮信號工做的頻帶範圍,好肯定磁珠的選型,儘可能讓其大於磁珠的轉換頻率;(2)直流電阻,選擇低Rdc,下降流過磁珠自己的損耗;(3)額定電流,選擇磁珠的額定電流盡可能接近或者大於工做電流;(4)自諧振頻率,應選擇自諧振頻率較高的磁珠,由於工做頻率大於自諧振頻率時,會表現爲電容特性,會迅速下降阻抗。

硬件筆試常見的問題電感濾波是反射噪聲,首先說一下電感的做用(1)通直流隔交流;(2)濾波;(3)阻礙電流的變化,維持電流的穩定。由於電感自己也有必定的阻抗,因此在大電流流過期須要考慮電感上的壓降,還要注意組成的LC高通或者低通濾波器,不要使其諧振頻率工做在器件自己的工做頻帶範圍內,不然會引發諧振,紋波變大。選擇電感時,其諧振頻率要高於工做頻率,當低於諧振頻率時,電感值保持穩定,高於諧振頻率時,不過增長到必定程度後再也不增長,頻率在增長電感表現爲電容性,會隨頻率增高而迅速減少。

硬件筆試常見的問題電容濾波是反射噪聲,電容的等效模型爲電感+電容+電阻的串聯,在諧振頻率以前,電容表現爲電容特性,隨着頻率增長,阻抗變小,可是隨着頻率超過工做頻率,會使得電容轉化爲電感特性,隨着頻率的增長阻抗變大。電容的做用(1)通交流隔直流;(2)濾波,高頻噪聲的泄放通道;(3)續流池,維持電壓的穩定。電容有ESR和ESL特性,ESR表現爲其內部有必定的電阻特性。ESL與電容的封裝尺寸有關,F = (ESL * C)^(-1/2)。對於ESL特性,因此在選擇電容濾波的時候,儘可能不要選擇同一封裝不一樣容值,或者同一容值不一樣封裝,這對於濾波會有必定的做用,可是不明顯,濾波效果較好的是不一樣容值不一樣封裝類型,能夠基本上濾波各個頻段的噪聲。 

           對於電容的選擇通常是 陶瓷電容 高頻,鉭電容通常是中頻,電解電容通常是低頻。容值越大的鉭電容其ESR值越小。

硬件筆試常見的問題3W,20H什麼意思

硬件筆試常見的問題3W是相鄰走線中心距爲標準線寬的3倍。H表示是電源層到底層的厚度,電源層相對於底層內縮20H,以吸取電源平面的輻射。

硬件筆試常見的問題狀態機中的摩爾和米莉有什麼區別

硬件筆試常見的問題摩爾型狀態機只和狀態有關,米莉型不僅僅和當前狀態有關,還和輸入有關。

硬件筆試常見的問題基爾霍夫電流定律和電壓定律

硬件筆試常見的問題在集總電路中,對於任一結點,全部流出結點的支路電流代數和恆等於零。

硬件筆試常見的問題在集總電路中,對於任一回路,全部支路電壓代數和恆等於零。

硬件筆試常見的問題如何理解運放的虛短和虛斷

硬件筆試常見的問題虛短是本質,虛斷是派生。固然利用這兩個運放的性質,算是把運放看成理想運放看待,不過實際中應用兩個此性質計算出來的結果也相差無幾。

硬件筆試常見的問題虛短是因爲運放的開環放大倍數每每很高,而運放的輸出每每是有限的,這樣會致使輸入的兩個引腳間的電位差很小,近似於等電位。稱爲虛短。

硬件筆試常見的問題虛斷是因爲運放的差模輸入電阻很高,流入的兩個輸入端的電流很小,近似於斷路,稱爲虛斷。

硬件筆試常見的問題溫度對晶體管的影響

硬件筆試常見的問題當溫度升高時,對於輸入特性,即Vbe與Ib之間的特性,會使得輸入特性曲線左移。

硬件筆試常見的問題當溫度升高時,對於輸出特性,即Vce與Ic之間的特性,會使得輸出特性曲線上移。

硬件筆試常見的問題PDN網絡最根本原則

硬件筆試常見的問題當溫要使得各個芯片的電壓穩定,應使得PDN阻抗低於目標阻抗,PDN阻抗 ≤ 目標阻抗 = Vdd * ripple % / Itransient  = 2 * Vdd * Vdd  ripple % / P  。

硬件筆試常見的問題運放如何選擇,其中須要注意哪些參數

硬件筆試常見的問題運放選擇時須要注意如下幾個參數:

硬件筆試常見的問題共模抑制比(KCMR),帶寬,供電電壓,共模輸入範圍,輸入失調電壓(offset voltage),輸入失調電流(offset current),輸入偏置電流(bias current),壓擺率,溫漂。

硬件筆試常見的問題共模抑制比:放大差模信號的能力,抑制共模信號的能力,體現抵抗噪聲的能力。

硬件筆試常見的問題供電電壓:當進行小信號放大時,不能超過供電電壓的供電範圍,不然會產生信號的失真。

硬件筆試常見的問題共模輸入範圍:此參數絕對了輸入信號的範圍,通常共模輸入範圍在手冊中會有規定,好比VCC – 0.2V,-VCC + 0.2V等,如果超過此共模輸入範圍,也會使得信號失真。

硬件筆試常見的問題輸入失調電壓:在輸入電壓爲0時,運放本應輸出電壓也爲0V,可是因爲運放內部不願能絕對對稱,會有必定的電壓輸出,爲了調節輸出爲0時的電壓大小爲失調電壓。通常失調電壓都在uV級別。

硬件筆試常見的問題輸入失調電流:在輸入電壓爲0時,流入兩個輸入端電流的差值,這體現了運放的輸入級差分管的不對稱性,但願此失調電流越小越好。

硬件筆試常見的問題輸入偏置電流:流入運放兩輸入端的電流的均值  I = (Ibn + Ibp)/ 2。

硬件筆試常見的問題阻抗與哪些因素有關

硬件筆試常見的問題阻抗與介質厚度,線間距,線寬,銅厚,介電材料有關。

硬件筆試常見的問題其中與介質厚度和線間距成正比,主要是由於由瞬時阻抗可知Z = 83 * (根號下 介電常數) /CL,因爲電容的值與導線距參考平面的高度成反比,因此,當導線距離參考平面比較近時,C變大,反之變小,因此Z的阻抗與介質厚度成正比,若介質厚度增大,則Z增大,反之亦然。經驗法則,厚度每增長1mil,特性阻抗減少2Ω。

硬件筆試常見的問題線間距主要是從自感和互感方面考慮,首先線間距越小,互感加強,自感減少,會致使迴路電感減少,這也是差分信號爲何要挨近的緣由。當間距變小時整個迴路的電感減少,根據 阻抗和電感與電容之間的關係, Z = 根號下(L/C),因此假設導線距離參考平面距離不變的狀況下,Z是減少的。因此阻抗Z與線間距成正比。

硬件筆試常見的問題介電材料,介電材料自己其實不會影響阻抗,可是介電材料會影響電容特性,電容與介電材料成正比,因此阻抗Z與介電常數成反比。

硬件筆試常見的問題銅厚與電感參量有關,銅厚與厚,電感的值越小,Z = 根號下(L/C),因此假設導線距離參考平面距離不變的狀況下,Z是減少的。因此阻抗Z與銅厚成反比。

硬件筆試常見的問題線寬與電感參量和電容量有關,線越寬,L減少,因爲C的值與線寬成正比(也就是橫截面面積增大),Z = 根號下(L/C),因此假設導線距離參考平面距離不變的狀況下,Z是減少的。因此阻抗Z與線寬成反比。

            幾個重要性質,電感L與線間距,半徑成反比,與導線長度成正比。電容與介電常數,線寬成正比,與介質厚度成反比。

            電感L的公式能夠參看相關的資料。

            C = 介電常數 * A / H。其中A爲橫截面積,H爲介質厚度。

            R = ρ/A,其中電阻與線寬是成反比,因此大面積鋪銅也是基於這個道理,使得迴路阻抗儘量小,減少地彈和壓降。

硬件筆試常見的問題傳輸線阻抗爲何是50Ω

硬件筆試常見的問題對於傳輸線,如果半徑選的太大,根據特性阻抗與L,R,C的關係,L會減少,C會增大,會致使特性阻抗變低,致使信號的衰減很大,權衡利弊,選50Ω時信號的衰減比較小。

硬件筆試常見的問題對於邏輯門電路的扇出數如何肯定

硬件筆試常見的問題首先要肯定兩個參數,第一個是噪聲容限,驅動門的高電平門限必須高於扇出門的高電平,驅動門的低電平門限必須小於扇出門的低電平。再者須要考慮拉電流和灌電流, 由拉電流參數肯定 驅動門數爲 N = IOH / IIH,由灌電流參數肯定 驅動門數爲 N = IOL / IIL,二者取最小者爲最大扇出數。

/****************************************************************
//===============================================================
上述內容若是有侵犯到您的權利,請及時與本做者聯繫,會在第一時間處理

聯繫方式:

Email :tiegen123@126.com
QQ   :2833104067

QQ交流羣:298095983(FPGA&硬件學習交流羣)
我的博客:http://www.raymontec.com/
其餘博客:http://www.cnblogs.com/raymon-tec

因爲做者水平有限,文中不免有疏漏或常識性錯誤,勞煩各位盡情指出。

歡迎你們一同討論技術,交流設計過程當中的經驗,共同進步,共同窗習。//===============================================================****************************************************************/

相關文章
相關標籤/搜索