IC講解： 如何區分CP測試和FT測試

對於專業的測試人員關於CP和FT的測試確定是很是的瞭解了，但不少非測試專業的從業人員對這兩個概念其實瞭解並不像那樣深入。因此本文將對於那些須要接觸測試但不是測試人員的人進行關於CP和FT的測試的講解。web 按照國際慣例，首先須要再解釋一下什麼是CP和FT測試.CP是（Chip Probe）的縮寫，指的是芯片在wafer的階段，就經過探針卡扎到芯片管腳上對芯片進行性能及功能測試，有時候這道工序也被

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