io隊列深度對IOPS的影響

FIO是用來測試磁盤IO性能比較常用的工具，它的強大之處在於提供了一套測試框架，能夠支持多線程多進程的IO測試，用戶只需進行參數的配置，便能夠方便地定製不同的IO行爲(順序讀寫，隨機讀寫等)，並對其性能進行監測。此次我們來測試金山私有云KingStack某套環境下SSD磁盤的4KB隨機寫的IOPS，驗證一下增加隊列深度對磁盤性能的影響。加大磁盤隊列深度就是讓磁盤不斷工作，減少磁盤的空閒時間。 1、

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