硬盤壞道表P-list和G-list工作原理

       硬盤的數據密度很大，在生產過程中不可避免地會產生缺陷，同時在使用過程中，那些不穩定的扇區也會逐漸老化而產生數據讀寫錯誤，這些缺陷和不穩定扇區會嚴重威脅硬盤數據的安全，爲此，硬盤設計了兩個壞道表來處理這些有缺陷的扇區，他們就是P-list和G-list.，它們用於記錄硬盤的缺陷扇區的情況，使硬盤工作時不會在缺陷扇區裏讀寫數據，防止數據損壞。         壞道的產生可以分爲兩種情況：

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