可靠性測試-JEDEC

可靠性測試 以下是 TI 對產品進行的各種可靠性測試的相關信息： 加速測試 大多數半導體器件的壽命在正常使用下可超過很多年。但我們不能等到若干年後再研究器件；我們必須增加施加的應力。施加的應力可增強或加快潛在的故障機制，幫助找出根本原因，並幫助 TI 採取措施防止故障模式。 在半導體器件中，常見的一些加速因子爲溫度、溼度、電壓和電流。在大多數情況下，加速測試不改變故障的物理特性，但會改變觀察時間。

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