Minitab的下載與安裝

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軟件功能

一、協助
測量系統分析
能力分析
圖形分析
假設檢驗
迴歸
DOE
控制圖
二、圖形
散點圖、矩陣圖、箱線圖、點圖、直方圖、控制圖、時間序列圖等
等值線圖和旋轉 3D 圖
機率圖和機率分佈圖
數據更改時自動更新圖形
對圖形使用筆刷以研究關注點
導出：TIF、JPEG、PNG、BMP、GIF、EMF
三、基本統計量
描述性統計量
單樣本 Z 檢驗、單樣本 t 檢驗、雙樣本 t 檢驗、配對 t 檢驗
單比率檢驗和雙比率檢驗
單樣本 Poisson 率檢驗和雙樣本 Poisson 率檢驗
單方差檢驗和雙方差檢驗
相關和協方差
正態性檢驗
異常值檢驗
Poisson 擬合優度檢驗
四、迴歸
線性迴歸和非線性迴歸
二元、順序和名義 Logistic 迴歸
穩定性研究
偏最小二乘
正交回歸
Poisson 迴歸
圖：殘差、因子、等值線、曲面等。
逐步：p 值、AICc 和 BIC 選擇標準
最佳子集
響應預測和優化
五、方差分析
方差分析
通常線性模型
混合模型
多元方差分析
多重比較
響應預測和優化
等方差檢驗
圖：殘差、因子、等值線、曲面等。
均值分析
六、測量系統分析
數據收集工做表
量具 R&R 交叉
量具 R&R 嵌套
擴展的量具重複性與重現性
量具運行圖
量具線性和偏倚
類型 1 量具研究
屬性量具研究
屬性一致性分析
七、質量工具
運行圖
Pareto 圖
因果圖
變量控制圖：XBar、R、S、XBar-R、XBar-S、I、MR、I-MR、I-MR-R/S、區域、Z-MR
屬性控制圖：P、NP、C、U、Laney P’ 和 U’
時間加權控制圖：MA、EWMA、CUSUM
多變量控制圖：T 方、廣義方差、MEWMA
稀有事件控制圖：G 和 T
歷史/過程偏移控制圖
Box-Cox 和 Johnson 變換
個體分佈標識
過程能力：正態、非正態、屬性、批處理
Process Capability SixpackTM
公差區間
抽樣驗收和 OC 曲線
八、試驗設計
肯定性篩選設計
Plackett-Burman 設計
二水平因子設計
裂區設計
通常因子設計
響應曲面設計
混料設計
D 最優設計和基於距離的設計
田口設計
用戶指定的設計
分析二進制響應
分析因子設計的變異性
修補試驗
效應圖：正態、半正態、Pareto
響應預測和優化
圖：殘差、主效應、交互做用、立方、等值線、曲面、線框
九、可靠性/生存
參數分佈分析和非參數分佈分析
擬合優度測量
確切失效數據、右刪失數據、左刪失數據和區間刪失數據
加速壽命檢驗
壽命數據迴歸
檢驗計劃
閾值參數分佈
可修復系統
多種失效模式
機率單位分析
Weibayes 分析
圖：分佈、機率、故障、生存
保證分析
十、功效和樣本數量
用於估計的樣本數量
公差區間的樣本數量
單樣本 Z、單樣本 t 和雙樣本 t
配對 t
單比率和雙比率
單樣本 Poisson 率和雙樣本 Poisson 率
單方差和雙方差
等價檢驗
單因子方差
二水平、Plackett-Burman 和通常全因子設計
功效曲線
十一、多變量
主成份分析
因子分析
判別分析
聚類分析
對應分析
項目分析和 Cronbach alpha
十二、時間序列和預測
時間序列圖
趨勢分析
分解
移動平均
指數平滑
Winters 方法
自相關函數、偏自相關函數和互相關函數
綜合自迴歸移動平均 (ARIMA)
1三、非參數
符號檢驗
Wilcoxon 檢驗
Mann-Whitney 檢驗
Kruskal-Wallis 檢驗
Mood 中位數檢驗
Friedman 檢驗
遊程檢驗
1四、等價檢驗
單樣本和雙樣本、配對
2x2 交叉設計
1五、表
卡方檢驗、Fisher 精確檢驗和其餘檢驗
卡方擬合優度檢驗
計數和交叉分組表
1六、模擬和分佈
隨機數生成元
機率密度、累積分佈和逆累積分佈函數
隨機抽樣
自引導和隨機化檢驗
1七、宏和自定義
可自定義的菜單和工具欄
大量首選項和用戶配置文件
功能強大的腳本功能