【硬件篇之功耗測試】

     產品的功耗測試，一般分爲芯片各支路功耗測試及整機功耗測試。      芯片各支路功耗測試，一是爲了確認我們設計是否達到芯片所要求的規格，另一方面也爲了降功耗設計，散熱設計提供切實的數據；      整機功耗測試，則是爲了產品規格書，輸出具體的數據，對於由電池供電的產品，整機功耗低，產品的使用時間長，也可以增加我們的市場競爭力。       下面我們也將圍繞這兩點展開測試工作。    名詞

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