三維掃描儀 XTOM-MATRIX

XTOM-MATRIX專爲工業級三維數字化檢測而研發製造，適用於待測物體幾何形狀的全尺寸三維數字化檢測。XTOM-MATRIX藍光三維掃描儀具有工業級高精度和高穩定性，在嚴苛的環境下仍可提供高精測量數據。 藍光技術 以藍光條紋技術爲基礎，在圖像採集過程中，可有效過濾周圍環境光干擾，對於深色表面、反光表面，大幅提高掃描質量和測量精度，提升數據質量。 外差式多頻相移技術 藍光三維掃描儀基於雙目立體視覺

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