上採樣

在做圖像分割的時候，需要對圖像進行像素級別的分類，因此在卷積提取到抽象特徵後需要通過上採樣將feature map還原到原圖大小。常見的上採樣方法有雙線性插值、轉置卷積、上採樣（unsampling）和上池化（unpooling）。其中前兩種方法較爲常見，後兩種用得較少。下面對其進行簡單介紹。 1、雙線性插值 雙線性插值，又稱爲雙線性內插。在數學上，雙線性插值是對線性插值在二維直角網格上的擴展，用

>>阅读原文<<