MCU組合功能測試

微控制器簡稱「MCU」(簡稱「單片機」)，是隨着大規模集成電路的出現和發展，將計算機的CPU、RAM、ROM、定時器和多種I/O接口集成在片芯片上，造成芯片級的計算機，爲不一樣的應用場合作不一樣組合控制。MCU是一種低功耗的微控制單元，適用於各種小家電的控制.目前的32位MCU成爲了主流市場,通常使用在較爲中高端的產品中,靈動微的32位MCU產品，適合使用在手持設備,電機控制,網絡通訊,無人機等應用範圍.

MCU的測試經過測試系統完成，由電子電路和機械硬件組成，是由同一個主控制器指揮下的電源、計量儀器、信號發生器、模式生成器和其餘硬件項目的集合體，用於模仿被測器件將會在應用中體驗到的操做條件，以必定的方式保證被測器件發到或超越它的那些被具體定義在器件規格書裏的設計指標.下面介紹關於MCU組合功能測試。

一．MCU組合功能測試
1．測試MCU軟件功能的完善性。這是針對全部單片機系統功能的測試,測試軟件是否寫的正確完整。

2．老化測試。測試長時間工做狀況下,單片機系統的可靠性。必要的話能夠放置在高溫,高壓以及強電磁干擾的環境下測試。

三、ESD和EFT等測試。能夠使用各類干擾模擬器來測試單片機系統的可靠性。例如使用靜電模擬器測試單片機系統的抗靜電ESD能力;使用突波雜訊模擬器進行快速脈衝抗干擾EFT測試等等。

4．上電、掉電測試。在使用中用戶必然會遇到上電和掉電的狀況,能夠進行屢次開關電源,測試單片機系統的可靠性。

還能夠模擬人爲使用中,可能發生的破壞狀況。例如用人體或者衣服織物故意摩擦單片機系統的接觸端口,由此測試抗靜電的能力。用大功率電鑽靠近單片機系統工做,由此測試抗電磁干擾能力等。