痞子衡嵌入式：經常使用的數據差錯控制技術（0）- 索引

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　　你們好，我是痞子衡，是正經搞技術的痞子。本系列痞子衡給你們講的是嵌入式經常使用的數據差錯控制技術，共6篇文章，按部就班地介紹6種經常使用的差錯控制技術。

　　通訊發展史與數據編碼技術發展息息相關，爲了檢測與糾正在通訊中發生未知的數據錯誤，經常須要在原始數據編碼時要引入一些技巧，這些技巧就是所謂的編碼技術。仔細看下面這張圖，想象本身就是其中的一個bit，是否是有身臨其境地感覺數據通訊編碼的感受？是的話，歡迎閱讀本系列文章。

　　本系列文章選取了用於差錯控制的六大經典的編碼校驗方式，在進入正文以前，咱們先用一張表對比這六大校驗技術差別：

校驗法對比

校驗方法	數據塊大小	校驗碼長度	檢錯能力	糾錯能力	適用場合	失效分析	行業應用
重複校驗	n bits	(q-1)*n bits q爲重複數	不限bit錯誤	x bits 但並不可靠	數據塊小且對傳輸效率無要求	檢錯：重複碼與原碼出錯bit位一致 糾錯：錯誤碼機率大於原碼	加強實現版本用於FlexRay通訊協議
奇偶校驗	n bits	1 bit	奇數個bit錯誤	無	數據塊小且通常只發生1bit錯誤	偶數個bit錯誤	串口UART通訊協議
和校驗	n bytes	1 byte	不限bit錯誤	無	數據塊中等且錯誤bit較少	多個bit錯誤致使的增量和能整除0x100	hex, s-record文件
循環冗餘校驗	n bytes	1/2/4/8 byte	不限bit錯誤	設計初衷僅檢錯，原理上也可糾錯(算法複雜)	數據塊大且錯誤bit無規律	多個bit錯誤致使碰撞現象（即錯誤數據CRC與原數據CRC剛好相等）	Modbus RTU模式，USB通訊協議
漢明碼校驗	256/512 bytes	22/24 bits	2 bit錯誤	1 bit錯誤（僅發生1 bit錯誤時）	數據塊較大但常只發生1/2 bit錯誤	多於2 bit錯誤	SLC NAND Flash ECC
BCH碼校驗	(m*k) bits m組k位	(m*n) bits n>k	(x+1) bit錯誤	x bit錯誤	數據塊較大且容易發生多bit錯誤	多於(x+1) bit錯誤	SSD NAND Flash(MLC/TLC) ECC

正文篇（持續更新中...3/6）

經常使用的數據差錯控制技術（1）- 重複校驗(Repetition Code)
經常使用的數據差錯控制技術（2）- 奇偶校驗(Parity Check)
經常使用的數據差錯控制技術（3）- 和校驗(Checksum)

經常使用的數據差錯控制技術（4）- 循環冗餘校驗(CRC)
經常使用的數據差錯控制技術（5）- 漢明碼校驗(Hamming Code SEC-DED)
經常使用的數據差錯控制技術（6）- 博斯-喬赫裏-霍克文黑姆碼校驗(BCH Code)