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NFA100-E 閃存測試儀
時間 2021-07-13
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閃存測試
NAND Flash
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自定義
電壓拉偏測試
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NFA100-E是一套功能強大且極具靈活性的Nand Flash分析系統,它最大限度地滿足用戶的對於Nand Flash的信息分析需求以及對這些信息的再處理需求,用戶還可以通過API和腳本(Script)來擴展任何自定義的測試或分析功能。 NFA100-E主要面向:企業閃存控制開發人員、高校教授及碩士、博士進行閃存研究、以及各種特殊單位進行閃存的安全性、可靠性研究的研發人員。 技術指標: 1、支持
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