電阻、電容、電感、半導體器件的失效分析！

本文轉自《電源研發精英圈》web 引言 電子元器件的主要失效模式包括但不限於開路、短路、燒燬、爆炸、漏電、功能失效、電參數漂移、非穩定失效等。對於硬件工程師來說電子元器件失效是個很是麻煩的事情，好比某個半導體器件外表無缺但實際上已經半失效或者全失效會在硬件電路調試上花費大把的時間，有時甚至炸機。 因此掌握各種電子元器件的實效機理與特性是硬件工程師比不可少的知識。下面分類細敘一下各種電子元器件的失效

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