De-embedding技術總結

RF工程師們依賴於矢量網絡分析儀(VNA)來測量RF元件的S參數,從而進行描述以及後續的設計。測量中會出現一個問題,即這些元件往往是表貼式,因此不能與VNA直接相連。簡單的印刷版(PCB)測試裝置往往都會表貼上待測器件(DUT)以便與VNA相連接,如圖1所示。然而,這些測試裝置本身會爲S參數測量帶來一些寄生效應,因此,需要De-embedding技術進行消除。 圖1 一、De-embedding技

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