DFT，可測試性設計--概念理解

工程會接觸DFT。需要了解DFT知識，但不需要深入。 三種基本的測試（概念來自參考文檔）： 1. 邊界掃描測試：Boundary Scan Test: 測試目標是IO-PAD，利用JTAG接口互連以方便測試。（jtag接口，實現不同芯片之間的互連。這樣可以形成整個系統的可測試性設計） 2. 內建自測試BIST:（模擬IP的關鍵功能，可以開發BIST設計。一般情況，BIST造成系統複雜度大大增加。m

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