IC驗證培訓——解讀《多線程向量處理器驗證技術的研究》

rockeric.com 隨着集成電路工藝水平以及計算機體系結構技術的不斷髮展，微處理器的性能在過去的幾十年中呈指數級的增長，伴隨而來的是微處理器設計規模以及複雜度也快速增加。隨之而來就是驗證的難度急劇增加。當前高性能微處理器驗證面臨的挑戰主要爲以下三個方面：1.驗證週期長，效率低。2.驗證覆蓋率難以保證。3.定位並調試錯誤難度大。一般對於處理器的驗證，通常採用分層次，多平臺的驗證。採用的驗證方法

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