選擇MRAM最佳測試算法

嵌入式內存測試和修復的挑戰是衆所周知的，包括最大程度地擴大故障覆蓋範圍以防止測試失敗以及使用備用元件來最大程度地提高製造良率。隨着有前途的非易失性存儲器架構的可用性不斷增加，以增加並潛在地替代傳統的易失性存儲器，新的SoC級存儲器測試和修復挑戰不斷涌現。通過將自旋轉移扭矩MRAM（STT-MRAM）作爲嵌入式MRAM技術的領先趨勢來增強動力，同時考慮了汽車應用的需求。要爲嵌入式MRAM選擇合適的內

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