mura檢測方法

圖2展示了開發的流程圖方法: 一種分割方法來檢測區域不均勻。首先檢查圖像的背景，利用DCT原理和an圖像過濾策略。然後可以檢測出Mura缺陷並利用所開發的分割策略進行量化。一個首先從TFT LCD單元中獲取液晶圖像將其變換到頻域，然後採用低通濾波策略對其進行濾波，提取其主圖像組件。然後是逆離散餘弦變換(IDCT)用於重建背景圖像。提取不均勻缺陷採用圖像減法進行分割從背景圖像。緊接着，mura出現了

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