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三座標測量基礎知識之觸發測頭/掃描測頭
時間 2021-01-12
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三座標
DMIS
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接觸式測頭:需要和被測表面發生實體接觸的探測系統。 非接觸式測頭:不需要和被測表面發生實體接觸的探測系統,如光學探測系統。 觸發測頭的特點 掃描測頭的特點 接觸式觸發測頭及原理 探針接觸被測物體,與物體接觸的力通過測頭內部的彈簧來平衡,測針繞測頭內部支點轉動,造成一個或兩個節點斷開,是接觸面積減小,電阻增加,當電阻到達觸發閾值時,測頭髮出觸發信號。 常用接觸式觸發測頭主要包括:機械式觸發測頭(TP
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