Phase Shift和PMP(相位測量輪廓法)的幾個需要注意的細節

移相技術，又稱相位測量輪廓儀（PMP），是由干涉測量技術衍生而來，最早由Srinivasan提出。投影儀在兩個連續條紋圖案之間投影具有恆定相位增量的多個正弦波條紋圖案。 下面是幾個需要解釋的細節： 在PMP中，光條紋圖案投射的是正弦條紋圖案，被移位幾次，並且投射的光條紋圖案表達式可以爲 這個公式已經很常見了，這裏需要解釋的正弦波的頻率f，以及在序列條紋圖案中被解碼的投影儀座標。 相機所捕獲的被物體

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